Strichplatte Objektmikrometer 0.01mm DIV TCM-L

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Strichplatte Objektmikrometer 0.01mm DIV TCM-L

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Beschreibung

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Strichplatte Objektmikrometer

Universelle Strichplatte Objektmikrometer zur Einstellhilfe, Kalibrierung und Durchmesserbestimmung.

 

Besonderheiten:

  • Vergrößerung des Mikroskopes prüfen

  • Vergleichsmessungen durchführen

  • Kalibrierung des Mikroskopes

  • Einheit 1 DIV = 0.01mm auf Glasträger 76mm x 26mm

  • usw...

 

Technische Daten:

Technische Daten:

Einheit 0.01mm / DIV
Material Glas
Abmessungen 76mm x 26mm
 
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  • Aufnahmen mit Stereo Mikroskop